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• ICP-OES（ICP光譜儀）：
  
  
  • ICP-OES通過(guò)將樣品引入高溫的電感耦合等離子體（通常是氬等離子體），激發(fā)樣品中的原子或離子，使其發(fā)射特征光譜。
  • 光譜儀檢測(cè)并分析這些發(fā)射光譜的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，從而確定樣品中各元素的種類和濃度。
  • 通過(guò)不同元素的特征發(fā)射光譜，能夠識(shí)別和定量樣品中的元素。
    
• ICP-MS（ICP質(zhì)譜儀）：
  
  
  • ICP-MS利用ICP產(chǎn)生的等離子體來(lái)將樣品中的元素離子化。然后，質(zhì)譜儀通過(guò)質(zhì)量-電荷比（m/z）對(duì)這些離子進(jìn)行分離和檢測(cè)。
  • ICP-MS通過(guò)檢測(cè)離子的質(zhì)量和數(shù)量，分析樣品中的元素成分及其濃度。
    

• ICP-OES：
  
  
  • ICP-OES的靈敏度相對(duì)較低，適合分析較高濃度的元素。通常檢測(cè)限在ppb（十億分之一）到ppm（百萬(wàn)分之一）之間。
  • 適合常規(guī)的元素分析，尤其是在濃度較高的樣品中。
    
• ICP-MS：
  
  
  • ICP-MS具有更高的靈敏度和更低的檢測(cè)限，能夠檢測(cè)到極低濃度的元素（可達(dá)到ppt，甚至更低）。
  • 適合分析超低濃度（如痕量元素）和具有挑戰(zhàn)性的樣品（如復(fù)雜矩陣中微量元素）的分析。
    

• ICP-OES：
  
  
  • ICP-OES的選擇性相對(duì)較低，因?yàn)椴煌氐陌l(fā)射譜線可能會(huì)發(fā)生重疊，尤其是在復(fù)雜樣品中，可能會(huì)出現(xiàn)譜線干擾。
  • 通常需要通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)淖V線或波長(zhǎng)進(jìn)行校正，且樣品的基質(zhì)效應(yīng)可能會(huì)影響結(jié)果。
    
• ICP-MS：
  
  
  • ICP-MS具有更高的選擇性，可以通過(guò)質(zhì)量分析來(lái)分離不同的元素和同位素，從而避免譜線重疊的問(wèn)題。
  • 但是，ICP-MS也可能受到基質(zhì)效應(yīng)和同位素干擾的影響，尤其是在高濃度元素存在時(shí)，需要使用專門的質(zhì)譜技術(shù)進(jìn)行干擾校正。
    

• ICP-OES：
  
  
  • 主要用于測(cè)定樣品中較為常見(jiàn)的元素（如鈉、鈣、鋁、鐵等）的濃度，尤其適合處理含量較高的樣品。
  • 適用于水質(zhì)分析、礦物和冶金行業(yè)、環(huán)境檢測(cè)、食品和農(nóng)業(yè)分析等領(lǐng)域。
    
• ICP-MS：
  
  
  • 主要用于分析微量或痕量元素，尤其適合高靈敏度、低檢測(cè)限的元素分析，如重金屬分析、同位素比值分析等。
  • 常用于環(huán)境科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)診斷、法醫(yī)分析、食品安全、考古學(xué)以及核廢料監(jiān)測(cè)等高精度分析領(lǐng)域。