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標題: 薄膜厚度測量的三種方法 [打印本頁]
作者: 合凈機械    時間: 2024-12-3 16:27
標題: 薄膜厚度測量的三種方法
薄膜厚度測量的方法有很多，其中常見的三種方法是機械接觸式測量、光學測量和電學測量。  
機械接觸式測量：  
這種方法通過物理接觸來測量薄膜的厚度。常用的儀器包括螺旋測微計和臺階儀。螺旋測微計通過旋轉螺桿來測量薄膜的厚度，而臺階儀則通過接觸探針在薄膜表面滑動來測量厚度變化。這種方法適用于各種單層薄膜材料，如金屬箔、紙張等。  
光學測量：  
光學測量方法利用光的干涉、反射和折射原理來測量薄膜厚度。常見的光學測量儀器包括橢偏儀和光譜共焦位移傳感器。橢偏儀通過分析偏振光在薄膜表面的反射變化來測量厚度，而光譜共焦位移傳感器則通過聚焦光束在薄膜表面的位移變化來測量厚度。這種方法適用于透明或半透明薄膜，以及對光學性能要求較高的薄膜。  
電學測量：  
電學測量方法通過測量薄膜的電學特性（如電容、電阻等）來推算其厚度。常見的電學測量方法包括電容法和四探針法。電容法通過測量薄膜的電容變化來計算厚度，適用于電介質(zhì)薄膜；四探針法則通過測量薄膜的電阻來推算厚度，適用于導電薄膜。  
這三種方法各有優(yōu)缺點，選擇哪種方法取決于薄膜的材料特性、厚度范圍以及所需的測量精度。

作者: 睡個好覺    時間: 2024-12-20 00:46
您提供的信息很實用，非常感謝！
作者: 蟹蟹    時間: 2024-12-23 06:30
說得太好了，完全贊同樓主的看法。



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