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標(biāo)題: 臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度 [打印本頁(yè)]
作者: 時(shí)代機(jī)械創(chuàng)新    時(shí)間: 2024-12-5 13:03
標(biāo)題: 臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度
臺(tái)階儀是一種精密的測(cè)量?jī)x器，廣泛應(yīng)用于測(cè)量薄膜厚度、表面粗糙度等表面特性。它通過(guò)一個(gè)精密的觸針或探針在被測(cè)表面上進(jìn)行掃描，根據(jù)表面的高低起伏來(lái)測(cè)量薄膜的厚度。以下是臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度的方法和優(yōu)勢(shì)：
臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度的原理
臺(tái)階儀的核心部件是一個(gè)精密的觸針或探針，它被安裝在一個(gè)高度可調(diào)的支架上。當(dāng)觸針沿被測(cè)表面輕輕滑過(guò)時(shí)，由于表面可能存在微小的峰谷，觸針在滑行的同時(shí)會(huì)根據(jù)表面的起伏作上下運(yùn)動(dòng)。這些上下運(yùn)動(dòng)被轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，通過(guò)精密的傳感器和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)記錄下來(lái)。

臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度的步驟
樣品準(zhǔn)備：將薄膜樣品粘貼在樣品臺(tái)上，確保薄膜表面平整、無(wú)褶皺。
設(shè)備校準(zhǔn)：使用已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)臺(tái)階儀進(jìn)行校準(zhǔn)，確保測(cè)量準(zhǔn)確性。
測(cè)試參數(shù)設(shè)置：根據(jù)薄膜的厚度和表面特性，設(shè)置合適的測(cè)試參數(shù)，如激光束的波長(zhǎng)、光斑大小、掃描速度等。
測(cè)試與數(shù)據(jù)采集：將薄膜樣品放置在臺(tái)階儀的樣品臺(tái)上，進(jìn)行掃描測(cè)量，記錄薄膜表面與基底表面之間的垂直距離。
數(shù)據(jù)處理：對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行平滑處理和分析，計(jì)算薄膜的平均厚度、最大厚度、最小厚度等參數(shù)。

臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度的優(yōu)勢(shì)
高精度：臺(tái)階儀具有亞埃級(jí)分辨率，能夠達(dá)到納米級(jí)別的測(cè)量精度。
高效率：配備有高速數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)，測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效。
多樣化的測(cè)量功能：除了測(cè)量膜厚，臺(tái)階儀還可以測(cè)量表面粗糙度、臺(tái)階高度等多種表面特性。

作者: 李小狼    時(shí)間: 2024-12-5 17:56
這個(gè)觀點(diǎn)真的很有實(shí)踐意義。
作者: 9549872678@16    時(shí)間: 2024-12-5 18:12
樓主的見(jiàn)解很獨(dú)到，值得學(xué)習(xí)。
作者: 唯有一劍    時(shí)間: 5 天前
這個(gè)方法我記下了，下次試試。



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