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標題: DLS分析儀的粒度可測范圍 [打印本頁]
作者: xiaobaba    時間: 2025-5-9 11:59
標題: DLS分析儀的粒度可測范圍
　　動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering，DLS）分析儀是一種用于測量分散體系中顆粒粒度分布的儀器，其粒度可測范圍通常在納米到微米級別，不過不同型號和廠家生產(chǎn)的DLS分析儀粒度可測范圍會有所差異，下面為你詳細介紹：
　　一、常見粒度可測范圍
　　一般來說，大多數(shù)商業(yè)化的DLS分析儀能夠測量的顆粒粒度范圍大致在0.3納米到10微米之間。其中，對于較小的顆粒，一些高性能的儀器可以檢測到低至0.1納米甚至更小的尺寸；而對于較大顆粒，部分儀器也能測量到接近20微米的情況，但這已經(jīng)超出了DLS技術較為理想的應用范圍。
　　二、影響粒度可測范圍的因素
　　1.散射光強度：顆粒越小，散射光強度越弱。當顆粒小到一定程度時，散射光信號可能淹沒在背景噪聲中，導致儀器難以準確檢測和分析，從而限制了可測的最小粒度。一般來說，當顆粒粒徑小于儀器檢測下限（通常為0.3納米左右）時，散射光過于微弱，無法獲得可靠的散射數(shù)據(jù)。
　　2.布朗運動：DLS技術基于顆粒的布朗運動來分析粒度。顆粒越大，布朗運動越緩慢，導致散射光的波動頻率降低。當顆粒尺寸過大時，散射光的波動信號可能變得非常緩慢，超出了儀器的檢測能力范圍，同時也可能受到其他因素（如重力沉降等）的干擾，影響測量結果的準確性，所以通常最大可測粒度在10微米左右。
　　3.儀器硬件性能：包括光源的強度和穩(wěn)定性、探測器的靈敏度、光學系統(tǒng)的分辨率等。高性能的光源可以提供更強的散射光信號，高靈敏度的探測器能夠檢測到更微弱的散射光，而高分辨率的光學系統(tǒng)則可以更準確地分辨不同角度的散射光，這些因素都有助于擴大儀器的粒度可測范圍。
　　在實際應用中，需要根據(jù)具體的樣品特性和測量需求選擇合適粒度可測范圍的DLS分析儀，同時要注意儀器的測量精度和準確性可能會隨著粒度接近測量范圍邊界而有所下降。
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作者: 光靠干飯就    時間: 2025-11-16 13:25
受益匪淺，感謝分享，希望多交流學習經(jīng)驗。
作者: 仰望星空    時間: 7 天前
感謝您的回答，讓我受益匪淺。
作者: mthl08    時間: 6 天前
很高興能參與這個討論。



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