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標(biāo)題: x射線衍射實(shí)驗(yàn)測什么 [打印本頁]
作者: 小雞燉蘑菇    時(shí)間: 2024-9-4 09:47
標(biāo)題: x射線衍射實(shí)驗(yàn)測什么
X射線衍射實(shí)驗(yàn)主要測量物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、物相分析、晶粒尺寸、微觀應(yīng)變以及薄膜的結(jié)構(gòu)等特性。該技術(shù)通過分析晶體形成的X射線衍射圖譜，可以提供關(guān)于物質(zhì)內(nèi)部原子在空間分布狀況的信息。
作者: 覺知音    時(shí)間: 2024-9-4 14:09
補(bǔ)充一下，，，X射線衍射實(shí)驗(yàn)主要用于測定晶體結(jié)構(gòu)，包括以下幾個(gè)方面：

晶體的相鑒定：通過比較樣品的衍射圖譜與已知物質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜，可以確定樣品中存在的物相。

晶體的結(jié)構(gòu)分析：通過測量衍射角和衍射強(qiáng)度，可以計(jì)算出晶體的晶胞參數(shù)、原子坐標(biāo)、鍵長、鍵角等結(jié)構(gòu)信息。

晶體的粒度分析：根據(jù)衍射峰的寬度，可以估算晶體的平均粒度大小。

晶體的缺陷分析：通過分析衍射峰的形狀和寬度，可以得到晶體內(nèi)部的缺陷信息，如位錯(cuò)、層錯(cuò)等。

晶體的取向分析：通過測量不同方向上的衍射強(qiáng)度，可以了解晶體在樣品中的取向分布。

晶體的應(yīng)力分析：通過測量衍射峰的位置偏移，可以計(jì)算出晶體內(nèi)部的殘余應(yīng)力。
作者: Q花藤    時(shí)間: 2024-9-11 20:19
感謝樓主讓我在知識(shí)的海洋里暢游。
作者: 章魚哥    時(shí)間: 2024-9-12 06:06
樓主真是行家啊，分析得頭頭是道。



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