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• 電子槍：在真空環(huán)境中，電子槍通過(guò)加熱或場(chǎng)發(fā)射的方式發(fā)射出自由電子。常見的電子源包括鎢絲和場(chǎng)發(fā)射陰極。
  

• 透鏡系統(tǒng)：發(fā)射出的電子經(jīng)過(guò)電磁透鏡的聚焦形成細(xì)小的電子束。透鏡的調(diào)節(jié)可以控制電子束的直徑和強(qiáng)度。
  

• 掃描線圈：由掃描線圈控制電子束在樣品表面上快速橫向移動(dòng)，按行掃描樣品。這種方式類似于電視圖像的刷新過(guò)程。
  

• 當(dāng)電子束撞擊樣品表面時(shí)，發(fā)生多種相互作用：
  
  • 二次電子：從樣品表面逸出的低能電子，用于產(chǎn)生樣品的表面圖像。
  • 反射電子：高能電子反彈產(chǎn)生的信息，提供樣品的成分和結(jié)構(gòu)信息。
  • 特征X射線：通過(guò)激發(fā)樣品中的原子發(fā)出特征X射線，提供樣品的元素組成信息。
    

• 探測(cè)器：收集產(chǎn)生的二次電子和其他信號(hào)。常用的探測(cè)器有二次電子探測(cè)器（SED）和反射電子探測(cè)器（BED）。
  

• 圖像顯示：探測(cè)器將收集到的信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)放大和處理后，形成圖像并在屏幕上顯示。圖像的灰度與信號(hào)的強(qiáng)度有關(guān)，可以反映樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)。
  

• 圖像可以進(jìn)一步處理和分析，以獲取關(guān)于樣品的更多信息，如尺寸、形狀、表面粗糙度等。
  

• SEM具有高分辨率（可達(dá)到納米級(jí)）和較大的景深，適合觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)。
  

• SEM廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)以及納米技術(shù)研究等領(lǐng)域。