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標題:
臺階儀工作原理
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作者:
煙火里的塵埃
時間:
2024-10-14 13:08
標題:
臺階儀工作原理
本帖最后由 煙火里的塵埃 于 2024-10-14 13:16 編輯
臺階儀測薄膜厚度的原理主要基于光的干涉現(xiàn)象。以下是基本原理和工作流程：
1. 原理
當光線照射到薄膜表面時，會在薄膜的頂部和底部產(chǎn)生反射。兩束反射光之間會因為光程差而發(fā)生干涉，形成明暗相間的干涉條紋。
2. 測量步驟
1. 光源發(fā)射：臺階儀內(nèi)置的光源（通常是激光）發(fā)出單色光，照射到薄膜上。
2. 反射光的干涉：
光線在薄膜的上表面和下表面反射，形成兩條反射光路徑。
這兩條光的相位差決定了干涉條紋的形成。
3. 計算光程差：通過分析干涉條紋，可以得到光程差。
4. 數(shù)據(jù)處理：測得的干涉條紋信息可以通過計算機進行分析，從而精確計算出薄膜的厚度。
3. 優(yōu)勢
高精度：能夠測量微米級甚至納米級的薄膜厚度。
非接觸測量：避免對薄膜造成任何物理損傷，適合脆弱材料。
4. 應用
臺階儀廣泛應用于半導體工業(yè)、光電器件、涂層技術(shù)等領(lǐng)域，用于質(zhì)量控制和研發(fā)。
通過上述原理和步驟，臺階儀可以有效地測量薄膜的厚度，為相關(guān)領(lǐng)域提供重要的數(shù)據(jù)支持。
作者:
一條魚到處跑
時間:
2024-10-14 14:23
當光線照射到薄膜表面時，會在薄膜的頂部和底部產(chǎn)生反射。兩束反射光之間會因為光程差而發(fā)生干涉，形成明暗相間的干涉條紋。
作者:
9549872678@8
時間:
2024-10-23 20:09
這個問題很有代表性，很多人都關(guān)心。
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