|
一、磁力吸引原理 此原理基于永磁體（即探頭）與磁鋼間的吸引力與它們間距的正比關系。隨著探頭與涂層間的距離變動，它們之間的吸引力也會相應變化。通過精準捕捉這種距離變動，儀器能夠推算出涂層的具體厚度。涂層越厚，磁阻越大，磁通量越小，因此可以通過測量磁阻或磁通量的變化來間接得出涂層的厚度。 二、渦流測量原理渦流測量原理涉及在探頭線圈中利用高頻交流信號產生電磁場。當探頭接近導體時，導體內部會產生渦流。探頭與導電基底的接近程度直接影響渦流強度和反射阻抗。因此，通過監(jiān)測渦流的大小，儀器可以間接得出涂層的厚度。當測量頭越接近導電基體時，渦流越大，反射阻抗也越大，儀器據此計算出涂層的厚度。 三、磁感應測量原理磁感應測量原理依賴于探頭通過非鐵磁性涂層向鐵磁性基底傳遞的磁通量來測量涂層厚度。儀器通過測量涂層厚度變化或磁阻來實現(xiàn)測量目的。在這種方法中，位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理，儀器可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。 四、超聲波測厚法某些超聲波涂層測厚儀會向涂層發(fā)送脈沖信號，脈沖在涂層與基材的界面反射后返回換能器，進而轉化為高頻電信號。儀器通過計算脈沖信號的往返時間來確定涂層的厚度。這種方法適用于多層涂鍍層厚度的測量或上述三種方法無法適用的場合。但需要注意的是，超聲波測厚法屬于非接觸式測量，其適用性和準確性可能受到涂層材料、基材性質以及涂層厚度等因素的影響。
| 
發(fā)表于 2024-11-29 08:20:33
