x射線光電子能譜儀可以測什么

機械儀器

X射線光電子能譜儀（XPS）是一種強大的表面分析技術，可測量材料表面以下約1-10納米的化學信息。其核心功能包括：
元素組成分析：通過檢測光電子動能，確定表面元素種類（除氫、氦外），靈敏度達0.1%原子濃度。
化學態(tài)鑒定：根據(jù)元素化學環(huán)境導致的結合能偏移（如氧化態(tài)、配位狀態(tài)），區(qū)分金屬、氧化物、硫化物等形態(tài)。
定量分析：通過光電子峰強度計算元素相對含量，支持半定量或定量分析。
深度剖析：結合離子束濺射，逐層剝離表面，獲取元素或化學態(tài)隨深度的分布。
污染與腐蝕研究：檢測表面吸附物、氧化層或污染物，評估材料耐蝕性。
應用領域涵蓋材料科學（如催化劑、涂層）、半導體（界面反應）、能源（電池電極降解）及生物醫(yī)學（生物材料表面修飾）等，是研究表面化學性質的關鍵工具。

姚希KUA！

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