環(huán)境老化試驗(yàn)箱概述

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一、產(chǎn)品用途
環(huán)境老化試驗(yàn)箱又名老化室、燒機(jī)房或恒溫房，主要用于LED、LCD、PCB、電子、電器、通訊、新能源、儀器儀表、電工材料、車輛、金屬、電子產(chǎn)品及電子元?dú)饧仍趦Υ?、使用過程中可能會(huì)遇到的嚴(yán)酷高溫、低溫、濕熱環(huán)境；或高溫、低溫、濕熱交變環(huán)境下，檢驗(yàn)其材料、配件或儀器設(shè)備耐高溫、耐寒、耐濕熱性能及可能造成的損壞壽命縮減等。


二、執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)
1、GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫2、GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫3、GJB150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法4、GJB150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法
5、GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化6、GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)7、GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件8、GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3) 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法9、GJB150.9A-2009 濕熱試驗(yàn)方法10、G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法11、GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備12、GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件13、GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)14、GBT 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測量三、產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.可視化結(jié)構(gòu)，室外可以直觀看出測試產(chǎn)品在測試室內(nèi)的工作狀態(tài)；在線通電數(shù)據(jù)監(jiān)控系統(tǒng)，可實(shí)時(shí)監(jiān)控讀取儲存測試產(chǎn)品，在測試室內(nèi)老化測試時(shí)，產(chǎn)品性能數(shù)據(jù)；提高測試?yán)匣|(zhì)量以及測試?yán)匣省?br /> 2.可視化結(jié)構(gòu).png
3.聯(lián)合開發(fā)觸摸屏式控制系統(tǒng)，分別控制溫度及濕度4.溫濕度設(shè)定(SV)實(shí)際(PV)值直接顯示
5.可顯示執(zhí)行程序號碼,段次,剩余時(shí)間及循環(huán)次數(shù)，運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間顯示程序編輯以及圖形曲線顯示6.單獨(dú)程序編輯畫面,每頁可輸入4個(gè)段次溫濕度,時(shí)間定點(diǎn)或程序動(dòng)作狀態(tài)顯示7.語言轉(zhuǎn)換可以切換中文/英文
8.5.7真彩顯示屏幕

亞洲一哥們

環(huán)境老化試驗(yàn)箱的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)算是了解了

manwu1212

你的使用步驟，讓我看到了這款儀器不同的使用方法。

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