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x射線衍射實(shí)驗(yàn)測(cè)什么

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樓主
發(fā)表于 2024-9-4 09:47:39 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
X射線衍射實(shí)驗(yàn)主要測(cè)量物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、物相分析、晶粒尺寸、微觀應(yīng)變以及薄膜的結(jié)構(gòu)等特性。該技術(shù)通過分析晶體形成的X射線衍射圖譜,可以提供關(guān)于物質(zhì)內(nèi)部原子在空間分布狀況的信息。
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    2024-9-4 08:26
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    沙發(fā)
    發(fā)表于 2024-9-4 14:09:46 | 只看該作者
    補(bǔ)充一下,,,X射線衍射實(shí)驗(yàn)主要用于測(cè)定晶體結(jié)構(gòu),包括以下幾個(gè)方面:

    晶體的相鑒定:通過比較樣品的衍射圖譜與已知物質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜,可以確定樣品中存在的物相。

    晶體的結(jié)構(gòu)分析:通過測(cè)量衍射角和衍射強(qiáng)度,可以計(jì)算出晶體的晶胞參數(shù)、原子坐標(biāo)、鍵長(zhǎng)、鍵角等結(jié)構(gòu)信息。

    晶體的粒度分析:根據(jù)衍射峰的寬度,可以估算晶體的平均粒度大小。

    晶體的缺陷分析:通過分析衍射峰的形狀和寬度,可以得到晶體內(nèi)部的缺陷信息,如位錯(cuò)、層錯(cuò)等。

    晶體的取向分析:通過測(cè)量不同方向上的衍射強(qiáng)度,可以了解晶體在樣品中的取向分布。

    晶體的應(yīng)力分析:通過測(cè)量衍射峰的位置偏移,可以計(jì)算出晶體內(nèi)部的殘余應(yīng)力。
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    擦汗
    2024-8-30 17:44
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    [LV.1]初來乍到

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    發(fā)表于 2024-9-11 20:19:39 | 只看該作者
    感謝樓主讓我在知識(shí)的海洋里暢游。
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    發(fā)表于 2024-9-12 06:06:03 | 只看該作者
    樓主真是行家啊,分析得頭頭是道。
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