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是的,PMI光譜分析儀有多種類型,以下是一些常見的介紹: 手持式X射線熒光光譜儀(XRF) - 原理:基于X射線熒光原理工作。儀器產(chǎn)生的高能X射線照射到被測(cè)材料表面,材料中的原子受到激發(fā),內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生空穴,外層電子躍遷填充空穴,多余能量以熒光X射線的形式發(fā)射出來。通過檢測(cè)這些熒光X射線的能量和強(qiáng)度,來確定材料中所含元素的種類和含量。
- 特點(diǎn):具有快速、非破壞性、精度高、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn),可在短時(shí)間內(nèi)對(duì)材料進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析,適用于各種復(fù)雜環(huán)境下的材料檢測(cè)。例如在石油化工行業(yè),可用于管道、儲(chǔ)罐等設(shè)備的材質(zhì)檢測(cè);在航空航天領(lǐng)域,可對(duì)飛行器結(jié)構(gòu)件等使用的高性能合金材料進(jìn)行檢測(cè)。
- 應(yīng)用場(chǎng)景:廣泛應(yīng)用于特種設(shè)備壓力容器、石油化工、電力能源、冶金鑄造、航空航天、汽車制造、機(jī)械加工等行業(yè)。
直讀光譜分析儀 - 原理:采用電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或光電直讀光譜法等。以電感耦合等離子體發(fā)射光譜法為例,樣品經(jīng)過處理后形成氣溶膠,進(jìn)入等離子體炬中,在高溫作用下原子化并激發(fā),發(fā)射出特定波長(zhǎng)的光譜線,通過對(duì)光譜線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度進(jìn)行分析,確定元素的種類和含量。
- 特點(diǎn):分析速度快,能夠同時(shí)對(duì)多種元素進(jìn)行定性和定量分析,具有較高的靈敏度和準(zhǔn)確性。部分直讀光譜分析儀還具備多CCD檢測(cè)系統(tǒng),如日立分析儀器的PMI-MASTER PRO(PMP2),可達(dá)30,000條光路通道,能精確檢測(cè)所有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)牌號(hào)及化學(xué)元素。
- 應(yīng)用場(chǎng)景:常用于金屬材料的成分分析,如鋼鐵、鋁合金、銅合金等,也可用于其他材料的分析,如礦石、土壤等。在工業(yè)生產(chǎn)中,可用于原材料的質(zhì)量檢測(cè)、生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制以及成品的檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。
激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS) - 原理:利用高功率激光束照射樣品表面,使樣品表面物質(zhì)瞬間熔化、氣化并形成等離子體羽狀火花,然后通過光譜儀收集等離子體輻射出的光信號(hào),根據(jù)光信號(hào)的特征譜線來分析樣品的元素組成和含量。
- 特點(diǎn):具有高的空間分辨率、時(shí)間分辨率和元素分辨率,可實(shí)現(xiàn)微區(qū)分析和深度分析,對(duì)樣品的損傷較小。此外,它不需要復(fù)雜的樣品前處理,可直接對(duì)固體、液體、氣體等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行分析。
- 應(yīng)用場(chǎng)景:在材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景。例如在材料科學(xué)研究中,可用于分析材料的微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分;在環(huán)境監(jiān)測(cè)中,可檢測(cè)大氣顆粒物、水體中的重金屬等污染物。
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