x射線衍射儀可以測晶體結(jié)構(gòu)嗎？

束蘊儀器

X射線衍射儀（XRD）可以測量晶體結(jié)構(gòu)。X射線衍射是研究晶體結(jié)構(gòu)最常用和最有效的方法之一，其基本原理基于布拉格定律（Bragg's Law）：當(dāng)X射線照射晶體時，會在特定角度發(fā)生衍射，通過分析衍射圖譜，可以推導(dǎo)出晶體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。
X射線衍射儀如何測量晶體結(jié)構(gòu)？
1、衍射圖譜的獲取
X射線衍射儀通過發(fā)射X射線束照射晶體樣品，樣品中的原子會散射X射線。當(dāng)滿足布拉格定律（2dsinθ = nλ）時，散射的X射線會在特定角度（衍射角θ）發(fā)生相干增強，形成衍射峰。通過探測器記錄這些衍射峰的位置和強度，得到衍射圖譜。
2、解析晶體結(jié)構(gòu)
晶格參數(shù)的確定：通過測量衍射峰的位置（衍射角θ），結(jié)合布拉格定律，可以計算出晶體的晶格參數(shù)（如晶胞邊長a、b、c以及夾角α、β、γ）。
空間群和原子位置的確定：通過分析衍射峰的強度和對稱性，結(jié)合晶體學(xué)理論，可以推斷晶體的空間群和原子在晶胞中的位置。
晶體結(jié)構(gòu)模型的構(gòu)建：通過Rietveld精修等方法，將實驗數(shù)據(jù)與理論模型進行擬合，進一步優(yōu)化晶體結(jié)構(gòu)模型，確定原子坐標(biāo)、鍵長、鍵角等詳細信息。

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