膜厚測(cè)試儀測(cè)試單位

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膜厚測(cè)試儀的測(cè)試單位通常是“微米”（μm）或“納米”（nm）。具體使用哪種單位取決于測(cè)試的膜層厚度范圍和精度要求。對(duì)于較薄的膜層，通常使用納米為單位；對(duì)于較厚的膜層，微米則是常見的單位。

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