XRF巖屑元素分析儀

小鵲被打扁了

　　GW-4040型XRF巖屑元素分析儀是利用初級X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)而進行物質(zhì)成分分析和化學態(tài)研究的方法。將X射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井是目前巖屑分析中速的技術(shù)，這項技術(shù)的獨到之處在于：能過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位.因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
　　測量內(nèi)容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
　　使用用途：油氣開采過程中的巖屑錄井檢測
　　產(chǎn)品特點
　　性能
　　高性能
　　優(yōu)選進口X射線管以及高性能探測器，確保長期的穩(wěn)定性以及準確度。
　　快響應(yīng)
　　相對于傳統(tǒng)的實驗室化驗等方式，光學檢測手段可以一秒內(nèi)可以進行多次檢測。
　　長壽命
　　無需耗材，壽命最長可達5-8年，綜合使用成本更低。
　　便攜性
　　相對于傳統(tǒng)類的實驗室設(shè)備，我們的光學設(shè)備無需任何耗材以及輔助設(shè)備，方便在作業(yè)現(xiàn)場進行便攜使用。
　　為了更好的讓客戶在野外操作，設(shè)備還需抗震和牢固，我們首先給設(shè)備配備了拉桿式鋁合金包裝箱，讓運輸更安全。
　　其次整體光路模塊采用整體不銹鋼CNC一體加工，從來穩(wěn)定性牢固性更好。
　　準確性
　　儀器集成了管壓檢測、溫度檢測，實時監(jiān)控腔內(nèi)的真空壓力和溫度，確保檢測的精度。
　　真空腔內(nèi)置過濾隔離裝置，仿制待測體的灰塵進入探測器探頭和射線管端子，導致污染損壞。
　　內(nèi)置步進電機使樣品環(huán)在檢測過程中始終處于旋轉(zhuǎn)狀態(tài)，提供檢測的準確度。
　　技術(shù)指標

分析元素	Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
探測下限	Al、Si、P、S、Ca：0.01% Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn：0.001%
分析范圍	0.0001％-99%
能量范圍	≤±1%F.S
穩(wěn)定性	≤±1%F.S
輸出信號	RS-232&USB數(shù)字輸出
配件	+筆記本電腦+壓片機
外殼尺寸	355*250*380(長*寬*高)
重量	36Kg

　　*具體量程可能會有細微偏差。
　　*工作在溫度25℃和1013mbar測試數(shù)據(jù)。
　　技術(shù)原理
　　技術(shù)原理
　　利用初級X射線光子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)。不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量可以對元素進行定性的分析;同時樣品受激發(fā)以后發(fā)射某一元素的特征X射線強度跟元素在樣品中的含量有關(guān)，因此可以對元素進行定量分析。
　　光學結(jié)構(gòu)
　　分析儀由如下光學技術(shù)平臺構(gòu)成，該技術(shù)平臺由X射線管、真空倉、探測器等光學組件構(gòu)成。X射線管發(fā)出的光直接照射在待測樣品，激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光，被探測器接收。通過對熒光譜線進行分析，可以分析出待測樣品中的元素成分和含量。
　　金屬元素的光譜
　　不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據(jù)熒光X射線的波長可以確定元素的組成。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。
　　巖屑成分
　　可一次性實現(xiàn)多達十幾種元素的快速、無損、準確分析。
　　自動穩(wěn)譜，消除譜峰水可載舟漂移影響，精確度達98%以上。
　　集成大量數(shù)據(jù)庫，并實時更新，目前可以識別巖屑成分多達上百種。
　　應(yīng)用領(lǐng)域
　　GW-4040型XRF巖屑元素分析儀，是本公司針對石油氣、天然氣、煤層氣、頁巖氣等清潔能源的開采而專門開發(fā)的高精度光學巖屑元素分析儀。可以很好的解決人工判斷的誤差性，以及傳統(tǒng)設(shè)備的不便捷性，更好了為測錄井提供原始數(shù)據(jù)。該設(shè)備小巧無輔助設(shè)備，目前在油田得到廣大客戶的使用。
　　產(chǎn)品主要用于以下場合：
　　● 油氣鉆井巖屑錄井;
　　● 物探巖石檢測等。

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