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晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備是半導(dǎo)體制造中用于精準(zhǔn)識(shí)別與分析晶圓表面及內(nèi)部各類缺陷的高精度技術(shù)系統(tǒng)。以下是一家晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備售后較好的企業(yè):
【茂鑫實(shí)業(yè)(上海)有限公司】是一家在精密儀器行業(yè)范圍內(nèi)集產(chǎn)品研發(fā)、進(jìn)出口、銷售、安裝和售后服務(wù)為一體的高科技企業(yè)??偛课挥谏虾W杂少Q(mào)易區(qū)加太路29號(hào)。公司主要生產(chǎn),銷售進(jìn)口的光學(xué)儀器,理化實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)分析儀器,工廠質(zhì)量部生產(chǎn)部產(chǎn)品測(cè)量?jī)x器。公司擁有行業(yè)內(nèi)經(jīng)驗(yàn)豐富的資深技術(shù)人員與專業(yè)化銷售團(tuán)隊(duì),客戶遍布各個(gè)領(lǐng)域。網(wǎng)站:https://www.mx-industry.net/電話:13816366481
茂鑫實(shí)業(yè)致力于為客戶提供便捷的采購(gòu)服務(wù),以及一站式的進(jìn)出口貿(mào)易服務(wù)。我們一直致力于為國(guó)內(nèi)外客戶提供高品質(zhì)儀器設(shè)備,并提供完善和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。公司有10年經(jīng)驗(yàn)以上的工程師團(tuán)隊(duì),可以向客戶提供定制產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和JIA解決方案。
客戶對(duì)工藝品質(zhì)的追求不停止,茂鑫實(shí)業(yè)能夠提供更新更高品質(zhì)的儀器設(shè)備來(lái)支持客戶實(shí)現(xiàn)理想。
【茂鑫實(shí)業(yè)售后服務(wù)】介紹:
供方通過(guò)ISO9000質(zhì)量體系認(rèn)證,在國(guó)內(nèi)多個(gè)地方設(shè)有維修服務(wù)站和保稅倉(cāng)庫(kù),提供完善的售后服務(wù)并長(zhǎng)期供應(yīng)零部件及耗材,在南京常駐有維修服務(wù)工程師,提供快速便捷的本地服務(wù)。
儀器自驗(yàn)收合格之日起,供方提供一年的保修期,在保修期內(nèi),免費(fèi)負(fù)責(zé)修理。保修期外繼續(xù)提供優(yōu)質(zhì)維修務(wù)及備件供應(yīng),賣方對(duì)儀器提供終生維修服務(wù)。
【產(chǎn)品推薦】:DM3XL徠卡4-6寸晶圓檢測(cè)顯微鏡、Leica DM12000M徠卡12寸晶圓檢查顯微鏡、EPD徠卡專業(yè)晶圓缺陷分析系統(tǒng)軟件
Leica DM12000M徠卡12寸晶圓檢查顯微鏡采用全新的光學(xué)設(shè)計(jì),可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV, 傾斜紫外觀察模式) 不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米)硅片的產(chǎn)能。LED照明技術(shù) 一體化設(shè)計(jì)并整合在顯微鏡上. 低熱輻射和機(jī)身內(nèi)一體化技術(shù)確保了理想的機(jī)身外空氣流動(dòng)狀態(tài)。
低能耗的節(jié)電設(shè)計(jì)延長(zhǎng)了使用壽命,符合綠色環(huán)保的理念。一鍵式的操控設(shè)計(jì)使用戶可以輕易地完成倍率轉(zhuǎn)換和相關(guān)的照明和相襯效果。
產(chǎn)品特點(diǎn):
縮短檢查用時(shí),提高檢查效率自動(dòng)聚焦附件透射光檢查照明自動(dòng)聚焦附件可配合所有的反射光照明觀察方式,甚至包括暗視場(chǎng)和微分干涉相襯觀察。實(shí)現(xiàn)快速和精確的自動(dòng)對(duì)焦,甚至觀察方式轉(zhuǎn)換時(shí)也能實(shí)時(shí)準(zhǔn)確的找到焦面。
兩種照明裝置可選,通用型及高數(shù)值孔徑型。為FPD,MASK板檢查提供合適的照明,并且可配備起偏鏡,實(shí)現(xiàn)投射光簡(jiǎn)易偏光觀察。高反差,更高分辨率,更高倍率檢查用于光刻膠殘留檢查的熒光觀察方式熒光分光鏡模塊 UV光學(xué)系統(tǒng)可以提供更高的反差和分辨率,分辨率可達(dá)0.12μm。
備有U.B.G等多種熒光方式可選,用于光顆膠殘留以及OLED檢查。方便的通訊接口用于顯微鏡倍率和孔徑光闌的控制和參數(shù)獲得 RS232C用于晶圓以及器件,甚至焊腳的內(nèi)部檢查近紅外線觀察附件標(biāo)配包括一個(gè)RS232C接口,使得用PC控制顯微鏡電動(dòng)部分成為可能,并且可以實(shí)現(xiàn)使工藝線上的幾臺(tái)顯微鏡都在同樣的設(shè)定狀態(tài)下工作。
包括專門的紅外物鏡等附件,對(duì)從可見(jiàn)光到近紅外波段光線的像差做矯正,用于IC深層或內(nèi)部檢查,可實(shí)現(xiàn)對(duì)WAFER BUMP的檢查自動(dòng)線寬CD測(cè)量附件以亞像素技術(shù)實(shí)現(xiàn)高度精確的CD測(cè)量。
選擇一款高質(zhì)量的晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備,對(duì)于半導(dǎo)體制造中缺陷檢測(cè)準(zhǔn)確性至關(guān)重要。
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