臺階儀測薄膜厚度原理

Miraitowa

臺階儀是一種用于測量薄膜厚度的精密儀器，主要通過檢測樣品表面高度的變化來確定薄膜的厚度。其基本原理可以概括為以下幾個步驟：

接觸式測量：通常采用一個非常尖銳的探針（如金剛石探針）輕輕地接觸樣品表面，并沿著樣品表面掃描。
高度變化檢測：當探針從基底移動到薄膜覆蓋的區(qū)域時，會因為薄膜的存在而產(chǎn)生高度上的變化。臺階儀能夠精確測量這種高度差。
數(shù)據(jù)采集與分析：儀器記錄下探針位置和對應的高度值，并通過內(nèi)置軟件計算出薄膜的厚度。
非破壞性：整個測量過程不會損壞樣品，適用于各種材料和厚度范圍。
臺階儀特別適用于測量厚度均勻性、臺階高度以及薄膜與基底之間的界面特性等參數(shù)，在半導體制造、光學涂層和其他微納米技術(shù)領域有著廣泛的應用

墨色繪夢

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傅水難收

樓上，角度新穎，看得我眼前一亮！

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