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電子顯微鏡的使用方法
電子顯微鏡(Electron Microscope, EM)是一種利用電子束而非可見光來形成圖像的顯微設備,能夠實現(xiàn)比光學顯微鏡更高的分辨率。根據(jù)其工作原理的不同,電子顯微鏡主要有兩種類型:透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)和掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)。下面是這兩種顯微鏡的基本使用步驟概述:
透射電子顯微鏡 (TEM)
樣本制備:
樣本必須非常?。ㄍǔP∮?00納米),以允許電子束穿過。
對生物樣本進行固定、脫水、浸透樹脂后進行超薄切片。
非生物樣本可能需要通過研磨或其他方法減薄。
樣本加載:
使用特制的網格(通常由碳或金屬制成)將樣本固定住。
將樣本網格放置在TEM樣品架上,并插入顯微鏡。
設置參數(shù):
調整電子槍的能量和強度。
設定合適的放大倍數(shù)。
調節(jié)光闌孔徑以獲得最佳圖像質量。
觀察與記錄:
觀察樣本并通過CCD相機或傳統(tǒng)膠片記錄圖像。
掃描電子顯微鏡 (SEM)
樣本制備:
樣本無需像TEM那樣極薄,但表面必須干燥且不含揮發(fā)性物質。
如果樣本導電性差,則需要鍍一層金屬(如金或鉑)來改善導電性。
樣本加載:
將樣本固定在樣品臺上。
將樣品臺放入SEM的真空腔室內。
設置參數(shù):
調整電子束的加速電壓。
設定掃描模式(如二次電子像或背散射電子像)。
選擇合適的放大倍數(shù)和工作距離。
觀察與記錄:
通過顯示器觀察樣本表面的詳細結構。
使用內置的數(shù)字相機保存圖像數(shù)據(jù)。
注意事項
在使用任何類型的電子顯微鏡之前,確保了解安全規(guī)程,特別是在處理有害化學品和維護真空環(huán)境時。
電子顯微鏡的操作通常需要專門訓練,初次使用者應在有經驗的技術人員指導下進行。
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